爱特蒙特光束质量分析仪

• 高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性

• 可为大光束进行分析的大面积传感器

• USB 3.0接口实现快传输率

Edmund Optics® (爱特蒙特光学)光束质量分析仪设计用于测量各类激光束尺寸，为优化激光系统操作提供信息。这些激光束质量分析仪配有高分辨率和大面积传感器，以确保能够针对小型和大型激光束进行精密分析。有两种尺寸可供选择，光束质量分析仪采用适用于 1 英寸 x 32 TPI 安装的螺纹，使之能够与 C 接口配件兼容. 爱特蒙特光学光束质量分析仪备有一外部触发器，可通过脉冲激光与相机同步，同时具有 USB 2.0 与 3.0 兼容性，可提供业内快的传输率。每台光束质量分析仪还包括具有多个显示选项（2D，3D 和 XY）的直观光束分析软件，以及许多控制工具，例如背景减除功能和高斯拟合.

爱特蒙特光束质量分析仪支架:

1" x 32 TPI (C-Mount)

帧频 (fps):

9 (at full frame)

像素 (H x V):

2048 x 1088 (2.2 MegaPixel)

像素大小，H x V (μm):

5.5 x 5.5

波长范围 (nm):

350 - 1150

输入光束要求 :

Minimum 55μm (10 x 10 pixels)

感应区域，H x V (mm):

11.3 x 6.0

包含的滤波器 :

Neutral Density, OD 4.0 (x1)